簡要描述:應(yīng)力集中檢測儀 金屬磁記憶檢測儀 型號(hào):TC-TSC-2M-8TC-TSC-2M-8應(yīng)力集中磁檢測儀是應(yīng)用金屬磁記憶法來測量、記錄和處理設(shè)備與結(jié)構(gòu)的應(yīng)力形變狀況的診斷數(shù)據(jù)的系統(tǒng)。 能用于按專門的檢測方法來評(píng)估設(shè)備的應(yīng)力變形狀況,并測定應(yīng)力集中區(qū)。此儀器的工作原理在于測量被檢測對(duì)象表面磁場Hp的分布。磁場強(qiáng)度使用A/m (安培/米)為單位,長度計(jì)數(shù)器換算出長度值,以mm為單位。
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應(yīng)力集中檢測儀 金屬磁記憶檢測儀 TC-TSC-2M-8
、記錄和處理設(shè)備與結(jié)構(gòu)的應(yīng)力形變狀況的診斷數(shù)據(jù)的系統(tǒng)。
能用于按專門的檢測方法來評(píng)估設(shè)備的應(yīng)力變形狀況,并測定應(yīng)力集中區(qū)。此儀器的工作原理在于測量被檢測對(duì)象表面磁場Hp的分布。磁場強(qiáng)度使用A/m (安培/米)為單位,長度計(jì)數(shù)器換算出長度值,以mm為單位。
該系列儀器從方法上確立了磁場Hp分布同殘余應(yīng)力之間的關(guān)系。本儀器連同開發(fā)出來的于不同工業(yè)部門的檢測方法,對(duì)在運(yùn)行中設(shè)備的診斷領(lǐng)域提供了嶄新的原理和手段。這里所采用的條件是,找出結(jié)構(gòu)的薄弱部位,其形式是金屬的磁記憶。檢測方法符合聯(lián)邦采礦技術(shù)監(jiān)督局的規(guī)定。本儀器已被推薦進(jìn)入聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)
功能外,同時(shí)擁有以下更*結(jié)構(gòu)和功能特點(diǎn):
多達(dá)8個(gè)測量通道;
使用配備新型雙分量傳感器,多個(gè)鐵磁探測式轉(zhuǎn)換器放置成雙分量,用來同時(shí)檢測磁場的法向分量(Нру)和切向分量(Нрх);
應(yīng)力集中檢測儀 金屬磁記憶檢測儀
數(shù)字電路、16位微處理器、1M內(nèi)存;
32MB存儲(chǔ)空間,用于寫入10-15天期間檢測結(jié)果而無須將信息轉(zhuǎn)入電腦;
分辨率為320X240點(diǎn)陣的大屏幕液晶顯示;
操作簡化,使用14鍵鍵盤;
軟件直接在儀器上自動(dòng)處理結(jié)果;
探頭可以測量場強(qiáng)值和移動(dòng)長度值,速度Z大可達(dá)0.5米/秒;
不要求對(duì)被檢測對(duì)象進(jìn)行專門的磁化,因?yàn)樗昧怂鼈冞\(yùn)行中形成的殘余磁性;
不要求對(duì)被檢測表面作任何準(zhǔn)備;
在檢測過程中能確定事先不知道的金屬的應(yīng)力集中和缺陷的部位;
儀器能把數(shù)據(jù)記錄到存儲(chǔ)器,并可把數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)錄入計(jì)算機(jī)中;
配套提供分析軟件MM-System,可在計(jì)算機(jī)上對(duì)數(shù)據(jù)作深入的處理。
技術(shù)參數(shù):
0.6 kg |
產(chǎn)品名稱:數(shù)字式電阻率測試儀/便攜式電阻率檢測儀 產(chǎn)品型號(hào):M-2 |
數(shù)字式電阻率測試儀/便攜式電阻率檢測儀型號(hào):M-2
一·概述
M-2型數(shù)字式電阻率測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置,它可以測量片狀,塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率,測量擴(kuò)散層的薄層電阻(也稱方塊電阻)。換上特制的四探針測試夾具,還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低,中值電阻進(jìn)行測量。
儀器由主機(jī),測試探頭(可選配測試臺(tái))等部分組成,測試結(jié)果用數(shù)字表頭直接顯示。主機(jī)主要由數(shù)控恒流源,高分辨率ADC,嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成,定位準(zhǔn)確,游移率較小,壽命長。
儀器于半導(dǎo)體材料廠,半導(dǎo)體器件廠,科研單位,高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能的測試。特別于要求快速測量中低電阻率的場合.
本儀器工作條件為:
溫度:
相對(duì)濕度: 60% ~ 70%
工作室內(nèi)應(yīng)無強(qiáng)電磁場干擾,不與高頻設(shè)備共用電源
二· 技術(shù)參數(shù)
1. 測量范圍:
電阻率:10 -2 ~ 102Ω-cm
方塊電阻:10 -1 ~ 103Ω/□
電阻:10 -3 ~ 9999Ω
2. 可測半導(dǎo)體材料尺寸
直徑:15mm-100mm
長(或高)度:≤400mm
3. 測量方位:
軸向,徑向均可
4. 數(shù)字電壓表
量程:2V
誤差: :± 0.1% FSB ± 2LSB
Z大分辨力:10μA
精度: 18位ADC ( 5 1/2 位)
顯示:4位數(shù)字顯示,小數(shù)點(diǎn)自動(dòng)顯示
5. 數(shù)控恒流源
電流輸出: 直流電流 2μA~ 2mA, 2μA步進(jìn)可調(diào),系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整。
誤差:± 0.1% FSB ± 0.5LSB
6. 四探針測試探頭:
探針間距: 1mm
探針機(jī)械游移率:± 1%
探針:碳化鎢,直徑0.5mm
7.電源:
DC 4.5V ~8V
功耗: < 1W
電源適配器:輸入: 220V±10% 50Hz
輸出:DC5V ± 10%
8. 外形尺寸:
主機(jī): 170mm (長) X 130mm (寬) X50mm(高)
產(chǎn)品名稱:可塑性試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品型號(hào):KSD-49 |
可塑性試驗(yàn)機(jī) 型號(hào):KSD-49
用途:于測定生膠、素?zé)捘z、混合膠的可塑性。
主要技術(shù)參數(shù):
兩平行板間試樣承受力:49±0.05N
控制溫度:70±1℃
百分表測程:0-30mm,精度0.01mm
電熱功率:220V±10%、700W、50Hz
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